iPhone6 Plus由于NAND闪存导致崩溃将面临大规模“召回”的消息并不真实。

苹果将召回iPhone 6 Plus是谣言 极少设备出现频繁崩溃

苹果官方支持论坛上关于崩溃的帖子已有182条回复
许多用户的iPhone 6 Plus频繁死机,原因可能是由于TLC NAND存储器控制IC存在缺陷。于是媒体纷纷报道称,苹果可能会召回有问题的iPhone 6 Plus。
然而9to5mac从知情人士处证实,这些报道完全失实。仅有极少量用户的iPhone出现了频繁死机的问题,在苹果官方支持论坛上,约有159个帖子反映出现这一问问题,并且其中大多数出自一人之手。帖子中,这些用户安装了大量软件应用,约500-1000。知情人士称,苹果已经获悉这一罕见的bug,并称媒体报道的设备死机是由于NAND闪存的报道仅是推测,并不准确。
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